A complex model via phase-type distributions to study random telegraph noise in resistive memories

  1. Ruiz-Castro, J.E.
  2. Acal, C.
  3. Aguilera, A.M.
  4. Roldán, J.B.
Revista:
Mathematics

ISSN: 2227-7390

Any de publicació: 2021

Volum: 9

Número: 4

Pàgines: 1-16

Tipus: Article

DOI: 10.3390/MATH9040390 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus