A new technique to analyze RTN signals in resistive memories

  1. González-Cordero, G.
  2. González, M.B.
  3. Campabadal, F.
  4. Jiménez-Molinos, F.
  5. Roldán, J.B.
Revista:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Año de publicación: 2019

Volumen: 215

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MEE.2019.110994 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus