Analysis of resistive switching processes in TiN/Ti/HfO2/W devices to mimic electronic synapses in neuromorphic circuits
- González-Cordero, G.
- Pedro, M.
- Martin-Martinez, J.
- González, M.B.
- Jiménez-Molinos, F.
- Campabadal, F.
- Nafría, N.
- Roldán, J.B.
Revista:
Solid-State Electronics
ISSN: 0038-1101
Año de publicación: 2019
Volumen: 157
Páginas: 25-33
Tipo: Artículo