Time series statistical analysis: A powerful tool to evaluate the variability of resistive switching memories

  1. Roldán, J.B.
  2. Alonso, F.J.
  3. Aguilera, A.M.
  4. Maldonado, D.
  5. Lanza, M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 1089-7550,  0021-8979

Año de publicación: 2019

Volumen: 125

Número: 17

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.5079409 GOOGLE SCHOLAR
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