An in-depth study of thermal effects in reset transitions in HfO2 based RRAMs

  1. Villena, M.A.
  2. González, M.B.
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  4. Campabadal, F.
  5. Jiménez-Molinos, F.
  6. Gómez-Campos, F.M.
  7. Suñé, J.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2015

Volumen: 111

Páginas: 47-51

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2015.04.008 GOOGLE SCHOLAR
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