Thermal drift reduction with multiple bias current for MOSFET dosimeters
ISSN: 0031-9155, 1361-6560
Año de publicación: 2011
Volumen: 56
Número: 12
Páginas: 3535-3550
Tipo: Artículo
ISSN: 0031-9155, 1361-6560
Año de publicación: 2011
Volumen: 56
Número: 12
Páginas: 3535-3550
Tipo: Artículo