Testability of AND-EXOR logic vs. AND-OR logic

  1. Parrilla, L.
  2. Ortega, J.
  3. Lloris, A.
Actas:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems

ISBN: 0780350081

Año de publicación: 1998

Volumen: 2

Páginas: 213-216

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ICECS.1998.814865 GOOGLE SCHOLAR
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