Early implant failure. Prognostic capacity of Periotest®: Retrospective study of a large sample
- Noguerol, B.
- Muñoz, R.
- Mesa, F.
- De Dios Luna, J.
- O'Valle, F.
ISSN: 0905-7161, 1600-0501
Año de publicación: 2006
Volumen: 17
Número: 4
Páginas: 459-464
Tipo: Artículo