Modeling of radiation effects in MOSFETs

  1. Banqueri, J.
  2. Carvajal, M.A.
  3. Palma, A.J.
Konferenzberichte:
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2013

ISBN: 9781467346689

Datum der Publikation: 2013

Seiten: 33-36

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/CDE.2013.6481335 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Datenquelle: Scopus