Response to ionizing radiation of different biased and stacked pMOS structures

  1. Martínez-García, M.S.
  2. del Río, J.T.
  3. Jaksic, A.
  4. Banqueri, J.
  5. Carvajal, M.A.
Revista:
Sensors and Actuators, A: Physical

ISSN: 0924-4247

Año de publicación: 2016

Volumen: 252

Páginas: 67-75

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SNA.2016.11.007 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus