Bispectrum-based statistical tests for VAD
- Górriz, J.M.
- Ramírez, J.
- Puntonet, G.G.
- Theis, F.
- Lang, E.W.
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
ISBN: 9783540287551
Año de publicación: 2005
Volumen: 3697 LNCS
Páginas: 541-546
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
ISBN: 9783540287551
Año de publicación: 2005
Volumen: 3697 LNCS
Páginas: 541-546
Tipo: Aportación congreso