Bayesian K-SVD using fast variational inference

  1. Serra, J.G.
  2. Testa, M.
  3. Molina, R.
  4. Katsaggelos, A.K.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Image Processing

ISSN: 1057-7149

Argitalpen urtea: 2017

Alea: 26

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 3344-3359

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TIP.2017.2681436 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus