Compact Modeling of Surface Potential and Drain Current in Multi-layered MoS2FETs

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  9. Chauhan, Y.S.
Konferenzberichte:
4th Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2020 - Proceedings

ISBN: 9781728125381

Datum der Publikation: 2020

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/EDTM47692.2020.9117875 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

Datenquelle: Scopus