Characterization of electron contamination in megavoltage photon beams
- Medina, A.L.
- Teijeiro, A.
- Garcia, J.
- Esperon, J.
- Terron, J.A.
- Ruiz, D.P.
- Carrion, M.C.
ISSN: 0094-2405
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 32
Nummer: 5
Seiten: 1281-1292
Art: Artikel