Standards for quantification of elements in the otolithic membrane by electron probe X‐ray microanalysis: Calibration curves and electron beam sensitivity

  1. LÓPEZ‐ESCÁMEZ, J.A.
  2. CRESPO, P.V.
  3. CAÑIZARES, F.J.
  4. CAMPOS, A.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Año de publicación: 1993

Volumen: 171

Número: 3

Páginas: 215-222

Tipo: Revisión

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1993.TB03378.X GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus