Test-Pattern Generation Based on Reed-Muller Coefficients

  1. Ortega, J.
  2. Ruiz, A.L.
  3. Prieto, A.
  4. Pelayo, F.J.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Computers

ISSN: 0018-9340

Argitalpen urtea: 1993

Alea: 42

Zenbakia: 8

Orrialdeak: 968-980

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/12.238487 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus