New high resolution Random Telegraph Noise (RTN) characterization method for resistive RAM

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Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2016

Volumen: 115

Páginas: 140-145

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2015.08.010 GOOGLE SCHOLAR
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