A new high resolution Random Telegraph Noise (RTN) characterization method for resistive RAM

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Actas:
EUROSOI-ULIS 2015 - 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon

ISBN: 9781479969111

Año de publicación: 2015

Páginas: 133-136

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2015.7063791 GOOGLE SCHOLAR
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