Characterization of random telegraph noise and its impact on reliability of SRAM sense amplifiers

  1. Martin-Martinez, J.
  2. Diaz, J.
  3. Rodriguez, R.
  4. Nafria, M.
  5. Aymerich, X.
  6. Roca, E.
  7. Fernandez, F.V.
  8. Rubio, A.
Actas:
2014 5th European Workshop on CMOS Variability, VARI 2014

ISBN: 9781479953998

Año de publicación: 2014

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/VARI.2014.6957088 GOOGLE SCHOLAR
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