Characterization of random telegraph noise and its impact on reliability of SRAM sense amplifiers
- Martin-Martinez, J.
- Diaz, J.
- Rodriguez, R.
- Nafria, M.
- Aymerich, X.
- Roca, E.
- Fernandez, F.V.
- Rubio, A.
Actas:
2014 5th European Workshop on CMOS Variability, VARI 2014
ISBN: 9781479953998
Año de publicación: 2014
Tipo: Aportación congreso