A special march test to detect delay coupling faults for RAMS
- Azimane, M.
- Ruiz, A.L.
Konferenzberichte:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems
ISBN: 9780780370579
Datum der Publikation: 2001
Ausgabe: 2
Seiten: 995-999
Art: Konferenz-Beitrag