Un algoritmo de muestreo exacto para BRDFs arbitrarias
- Montes, R.
- Ureña, C.
- Lastra, M.
- García, R.
Actas:
18th Spanish Computer Graphics Conference, CEIG 2008
ISBN: 9783905673692
Año de publicación: 2008
Páginas: 199-208
Tipo: Aportación congreso