The Devil is in the Details: Whole Slide Image Acquisition and Processing for Artifacts Detection, Color Variation, and Data Augmentation: A Review
- Kanwal, N.
- Perez-Bueno, F.
- Schmidt, A.
- Engan, K.
- Molina, R.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Año de publicación: 2022
Volumen: 10
Páginas: 58821-58844
Tipo: Artículo