A Statistical Study of Resistive Switching Parameters in Au/Ta/ZrO2(Y)/Ta2O5/TiN/Ti Memristive Devices
- Maldonado, D.
- Belov, A.I.
- Koryazhkina, M.N.
- Jiménez-Molinos, F.
- Mikhaylov, A.N.
- Roldán, J.B.
ISSN: 1862-6319, 1862-6300
Año de publicación: 2023
Volumen: 220
Número: 11
Tipo: Artículo