Estudio de líneas de transmisión encapsuladas de configuración planar en dieléctricos anisótropos.

  1. Medina Mena, Francisco
Dirigida por:
  1. Manuel Horno Montijano Director/a

Universidad de defensa: Universidad de Sevilla

Fecha de defensa: 14 de septiembre de 1987

Tribunal:
  1. José Luis Huertas Díaz Presidente/a
  2. Ángel Benito Rodríguez Vázquez Secretario/a
  3. Enrique Page de la Vega Vocal
  4. Vicente Such Vocal
  5. Rafael Antonio Gómez Martín Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 15977 DIALNET lock_openIdus editor

Resumen

En este trabajo se desarrollan sendos métodos de cálculo para el estudio de las características de propagación de sistemas de transmisión de configuración Planar para circuitos integrados de microondas haciendo uso de dos modelos dife rentes uno cuasi estático y otro dinámico. El primero de estos modelos cuya validez se encuentra limitada al extremo inferior del espectro de microondas y a líneas capaces de soportar modos Cuasi-Tem se describe a través de las matrices inductancia (L) y capacidad (C) P.U.L. asociadas a la estructura. La determinación de las mismas se lleva a cabo utilizando expresiones variacionales de sus elementos y trabajando en el dominio transformado de Fourier. De este modo se obtienen resultados muy precisos de los parámetros de interés sin necesidad de resolver completamente el problema de potencial asociado y a la vez se simplifica la manipulación matemática al sustituir complicadas integrales de convolución por simples productos algebraicos. El modelo dinámico no introduce ningún tipo de hipótesis simplificadora acerca de la naturaleza del campo electromagnético en el interior de la guía determinándose las constantes de propagación modales mediante la aplicación del método de Ritz-Galerkin en el dominio espectral. El método desarrollado permite tratar configuraciones generalizadas compuestas por un numero arbitrario de capas dieléctricas Iso/Anisótropas (incluyendo el caso de dieléctricos anisótropos biaxiales) entre las cuales se encuentran impresas las tiras conductoras u otras metalizaciones. Ambos métodos a través de un tratamiento numérico adecuado conducen a resultados de elevada precisión con reducidos costos computacionales. Haciendo uso de los programas desarrollados se han comparado favorablemente los resultados obtenidos con estos métodos con los aportados por otros autores y se han analizado además nuevas estructuras de transmisión.