Parameter Extraction Methods for Assessing Device-to-Device and Cycle-to-Cycle Variability of Memristive Devices at Wafer Scale

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Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 1557-9646,  0018-9383

Año de publicación: 2023

Volumen: 70

Número: 1

Páginas: 360-365

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2022.3224886 GOOGLE SCHOLAR
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