Toward a definition of x-ray crystal quality
- Maes, D.
- Evrard, C.
- Gavira, J.A.
- Sleutel, M.
- Van De Weerdt, C.
- Otalora, F.
- Garcia-Ruiz, J.M.
- Nicolis, G.
- Martial, J.
- Decanniere, K.
ISSN: 1528-7483, 1528-7505
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 8
Nummer: 12
Seiten: 4284-4290
Art: Konferenz-Beitrag