Device degradation and resilient computing

  1. Glösekötter, P.
  2. Greveler, U.
  3. Wirth, G.I.
Actas:
Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems

ISSN: 0271-4310

ISBN: 9781424416844

Año de publicación: 2008

Páginas: 828-831

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ISCAS.2008.4541546 GOOGLE SCHOLAR
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