Estudio del fenomeno de la conmutacion en dispositivos metal-aislante-semiconductor-semiconductor (miss)

  1. MILLAN GOMEZ, JOSE
Dirigida por:
  1. Francisco Serra Mestres Director/a

Universidad de defensa: Universitat Autònoma de Barcelona

Año de defensa: 1981

Tribunal:
  1. Francisco Serra Mestres Presidente/a
  2. Elías Muñoz Merino Secretario/a
  3. Pedro Cartujo Estebanez Vocal
  4. Juan Santiago Muñoz Domínguez Vocal
  5. Juan Buxo Santaolaria Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 5852 DIALNET

Resumen

En este trabajo se formula un modelo fisico basado en la conduccion por tunel resonante del dispositivo metal-aislante-semiconductor-semiconductor (miss) que explica los resultados experimentales. Obtenemos expresiones analiticas de su caracteristica tension-corriente de la corriente y de la tension en el punto de conmutacion asi como de la impedancia del dispositivo en estado estacionario.