Impact of S/D Tunneling in Ultrascaled Devices, a Multi-Subband Ensemble Monte Carlo Study

  1. Medina-Bailon, C.
  2. Sampedro, C.
  3. Gamiz, F.
  4. Godoy, A.
  5. Donetti, L.
Colección de libros:
2015 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD)

ISSN: 1946-1569

ISBN: 978-1-4673-7860-4

Año de publicación: 2015

Páginas: 214-217

Congreso: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS