Enhanced electron transport by carrier overshoot in ultrascaled Double Gate MOSFETs
- Rodriguez, Noel
- Donetti, Luca
- Sampedro, Carlos
- Martinez-Carricondo, Francisco
- Gamiz, Francisco
- Esseni, D (coord.)
- Palestri, P (coord.)
- Selmi, L (coord.)
ISBN: 978-1-4244-1729-2
Any de publicació: 2008
Pàgines: 203-206
Congrés: 9th International Conference on Ultimate Integration on Silicon
Tipus: Aportació congrés