Ballisticity at very low drain bias in DG SOI nano-MOSFETs

  1. Sampedro, Carlos
  2. Gamiz, Francisco
  3. Godoy, Andres
  4. Cristoloveanu, Sorin
Libro:
2007 INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR DEVICE RESEARCH SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2

ISBN: 978-1-4244-1891-6

Año de publicación: 2007

Páginas: 185-186

Congreso: International Semiconductor Device Research Symposium

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS