Insights in low frequency noise of advanced and high-mobility channel transistors

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  14. Claeys, C.
Buch:
2012 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING (IEDM)

ISBN: 978-1-4673-4870-6,  978-1-4673-4872-0

Datum der Publikation: 2012

Kongress: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS