Variability predictions for the next technology generations of n-type Si x Ge 1-x nanowire MOSFETs
- Lee, J.
- Badami, O.
- Carrillo-Nuñez, H.
- Berrada, S.
- Medina-Bailon, C.
- Dutta, T.
- Adamu-Lema, F.
- Georgiev, V.P.
- Asenov, A.
Zeitschrift:
Micromachines
ISSN: 2072-666X
Datum der Publikation: 2018
Ausgabe: 9
Nummer: 12
Art: Artikel