Holistic Variability Analysis in Resistive Switching Memories Using a Two-Dimensional Variability Coefficient

  1. Acal, C.
  2. Maldonado, D.
  3. Aguilera, A.M.
  4. Zhu, K.
  5. Lanza, M.
  6. Roldán, J.B.
Revista:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252,  1944-8244

Any de publicació: 2023

Volum: 15

Número: 15

Pàgines: 19102-19110

Tipus: Article

DOI: 10.1021/ACSAMI.2C22617 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objetivos de desarrollo sostenible

Font de les dades: Scopus