Nanoscale dielectric microscopy of non-planar samples by lift-mode electrostatic force microscopy

  1. Van Der Hofstadt, M.
  2. Fabregas, R.
  3. Biagi, M.C.
  4. Fumagalli, L.
  5. Gomila, G.
Aldizkaria:
Nanotechnology

ISSN: 1361-6528,  0957-4484

Argitalpen urtea: 2016

Alea: 27

Zenbakia: 40

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0957-4484/27/40/405706 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus