Thermal dependence of the current in TiN/Ti/HfO2/W memristors at different intermediate conduction states

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Revista:
Materials Science in Semiconductor Processing

ISSN: 1369-8001

Año de publicación: 2024

Volumen: 179

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MSSP.2024.108480 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor