Projecte d'investigació
DPI2000-1217-C02-02
DETECCIÓN DE DEFECTOS EN MATERIALES AVANZADOS.
date_range
Duració del 28 de de desembre de 2000 al 27 de de desembre de 2003
(36 mesos)
Convocatòria:
Investigadors/es
RAFAEL
GALLEGO SEVILLA
Responsable