ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES
DEPARTAMENTO
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Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Porto Alegre, BrasilPublicacións en colaboración con investigadores/as de Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2)
2024
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High-Temporal-Resolution Characterization Reveals Outstanding Random Telegraph Noise and the Origin of Dielectric Breakdown in h-BN Memristors
Advanced Functional Materials, Vol. 34, Núm. 15
2022
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Hardware implementation of a true random number generator integrating a hexagonal boron nitride memristor with a commercial microcontroller
Nanoscale, Vol. 15, Núm. 5, pp. 2171-2180