Nanoscale aggregation phenomena at the contact line of air-drying pure water droplets on silicon revealed by atomic force microscopy

  1. Méndez-Vilas, A.
  2. Jódar-Reyes, A.B.
  3. Díaz, J.
  4. González-Martín, M.L.
Revista:
Current Applied Physics

ISSN: 1567-1739

Any de publicació: 2009

Volum: 9

Número: 1

Pàgines: 48-58

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.CAP.2007.11.009 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus