Procesos estocásticos puntuales y fiabilidad de sistemas intermitentes

  1. Diaz Godino, Juan
Supervised by:
  1. Ramón Gutiérrez Jáimez Director

Defence university: Universidad de Granada

Year of defence: 1982

Committee:
  1. Pablo Bobillo Guerrero Chair
  2. Rafael Herrerías Pleguezuelo Secretary
  3. José Miguel Casas Sánchez Committee member
  4. Ramón Gutiérrez Jáimez Committee member
  5. Antonio Pascual Acosta Committee member
Department:
  1. ESTADÍSTICA E INVESTIGACIÓN OPERATIVA

Type: Thesis

Teseo: 6484 DIALNET

Abstract

SE ESTUDIA EL EFECTO DE LA EXPOSICION INTERMITENTE AL RIESGO DE FALLO SOBRE LAS DISTRIBUCIONES DE VIDA ANALIZANDO LAS VARIABLES Y PROCESOS ESTOCASTICOS PUNTUALES QUE DEFINEN EL REGIMEN DE FUNCIONAMIENTO INTERMITENTE ASI COMO LAS RELACIONES ENTRE EL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y EL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO, SE ENCUENTRA UN PROCEDIMIENTO DE CALCULO DE LA DISTRIBUCION DEL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO Y SE COMPARA LAS SOLUCIONES EXACTAS CON LOS MODELOS ASINTOTICO Y APROXIMADO. ANALIZA LAS DIFERENCIAS ENTRE EL MODELO DE INTERMITENCIA Y LOS MODELOS DE CHOQUE Y DESGASTE; EXTIENDE RESULTADOS SOBRE MOMENTOS DEL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y DEMUESTRA QUE LAS CLASES DE DISTRIBUCIONES IFR DFR IFRA Y DFRA NO SE CONSERVAN EN EL MODELO DE INTERMITENCIA.