Procesos estocásticos puntuales y fiabilidad de sistemas intermitentes

  1. Diaz Godino, Juan
Dirigée par:
  1. Ramón Gutiérrez Jáimez Directeur

Université de défendre: Universidad de Granada

Année de défendre: 1982

Jury:
  1. Pablo Bobillo Guerrero President
  2. Rafael Herrerías Pleguezuelo Secrétaire
  3. José Miguel Casas Sánchez Rapporteur
  4. Ramón Gutiérrez Jáimez Rapporteur
  5. Antonio Pascual Acosta Rapporteur
Département:
  1. ESTADÍSTICA E INVESTIGACIÓN OPERATIVA

Type: Thèses

Teseo: 6484 DIALNET

Résumé

SE ESTUDIA EL EFECTO DE LA EXPOSICION INTERMITENTE AL RIESGO DE FALLO SOBRE LAS DISTRIBUCIONES DE VIDA ANALIZANDO LAS VARIABLES Y PROCESOS ESTOCASTICOS PUNTUALES QUE DEFINEN EL REGIMEN DE FUNCIONAMIENTO INTERMITENTE ASI COMO LAS RELACIONES ENTRE EL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y EL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO, SE ENCUENTRA UN PROCEDIMIENTO DE CALCULO DE LA DISTRIBUCION DEL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO Y SE COMPARA LAS SOLUCIONES EXACTAS CON LOS MODELOS ASINTOTICO Y APROXIMADO. ANALIZA LAS DIFERENCIAS ENTRE EL MODELO DE INTERMITENCIA Y LOS MODELOS DE CHOQUE Y DESGASTE; EXTIENDE RESULTADOS SOBRE MOMENTOS DEL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y DEMUESTRA QUE LAS CLASES DE DISTRIBUCIONES IFR DFR IFRA Y DFRA NO SE CONSERVAN EN EL MODELO DE INTERMITENCIA.