TESEOalgoritmo eficiente para la generación algebraica de patrones de test
- Pérez Trabado, Pablo
- Ortega Lopera, Julio
- Lloris Ruiz, Antonio
Editorial: Universidad de Cantabria
ISBN: 84-87412-61-0
Año de publicación: 1991
Páginas: 459-464
Congreso: Congreso de Diseño de Circuitos Integrados (6. 1991. Santander)
Tipo: Aportación congreso
Resumen
En esta comunicación se representa un algoritmo de generación de patrones de test para faltas de anclaje ("stuck-at") en circuitos combinacionales, obtenidos por solución de ecuaciones booleanas. Se incluyen reglas detalladas para la construcción de las ecuaciones, y para el uso de los puntos de fan-out en la simplificación del procedimiento.