Cuantificación y caracterización de imperfecciones reticulares en los minerales de la arcilla
ISSN: 0210-6558
Année de publication: 1991
Volumen: 14
Número: 0
Pages: 7-14
Type: Article
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Résumé
El contenido de imperfecciones reticulares en los minerales de la arcilla puede obtenerse a partir del análisis de los perfiles de difracción de rayos X de polvo. En este caso se ha empleado para ello una modificación del llamado método de la varianza (Wilson, 1963). En la descripción de los defectos reticulares se ha utilizado una técnica altamente resolutiva como es la microscopía electrónica de transmisión en alta resolución (HRTEM). De este modo se ha estudiado cómo varía el contenido y la tipología de las imperfecciones reticulares en los filosilicatos, desde materiales sedimentarios con diverso grado de diagénesis a otros que han sufrido ya un metamorfismo de grado bajo.