A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots

  1. Villanueva, J.A.L.
  2. Tejada, J.A.J.
  3. Palma, A.
  4. Bolívar, S.R.
  5. Carceller, J.E.
Actes:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Any de publicació: 2005

Volum: 2005

Pàgines: 345-348

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504400 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus