Electron transport in ultrathin double-gate SOI devices

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Revista:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Año de publicación: 2001

Volumen: 59

Número: 1-4

Páginas: 423-427

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/S0167-9317(01)00635-9 GOOGLE SCHOLAR
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