Monte carlo simulation of electron transport properties in extremely thin SOI MOSFET's
ISSN: 0018-9383
Any de publicació: 1998
Volum: 45
Número: 5
Pàgines: 1122-1126
Tipus: Article
ISSN: 0018-9383
Any de publicació: 1998
Volum: 45
Número: 5
Pàgines: 1122-1126
Tipus: Article