Monte Carlo study on electron transport properties in double-gate fully depleted SOI-MOSFETs
ISSN: 1930-8876
ISBN: 2863322214
Ano de publicación: 1997
Páxinas: 208-211
Tipo: Achega congreso
ISSN: 1930-8876
ISBN: 2863322214
Ano de publicación: 1997
Páxinas: 208-211
Tipo: Achega congreso