Influence of the doping profile on electron mobility in a MOSFET

  1. Gamiz, F.
  2. Lopez-Villanueva, J.A.
  3. Roldan, J.B.
  4. Carceller, J.E.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 1996

Ausgabe: 43

Nummer: 11

Seiten: 2023-2025

Art: Artikel

DOI: 10.1109/16.543043 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus