Electron trapping and detrapping in near-interfacial traps during Fowler-Nordheim tunneling injection at 77 K

  1. López-Villanueva, J.A.
  2. Carceller, J.E.
  3. Gámiz, F.
  4. Banqueri, J.
Zeitschrift:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Datum der Publikation: 1995

Ausgabe: 28

Nummer: 1-4

Seiten: 317-320

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0167-9317(95)00066-H GOOGLE SCHOLAR
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