Accurate determination of majority thermal-capture cross sections of deep impurities in p-n junctions

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Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 74

Nummer: 4

Seiten: 2605-2612

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.354673 GOOGLE SCHOLAR